En los últimos 30 años, a nivel internacional, la metrología dimensional ha experimentado profundas transformaciones con la aparición de instrumentos electrónicos y la introducción de computadoras, que facilitan el manejo de los datos obtenidos así como la toma de mediciones que anteriormente duraba mucho tiempo. Este libro presenta estos avances y describe los equipos que han sido desarrollados en años recientes y que actualmente se utilizan en diversas industrias para resolver complejos problemas de medición. Entre otros se mencionan los instrumentos de medición por coordenadas, rugosímetros, comparadores ópticos, medidores de redondez, controno y dureza, además de mediciones con láser y microscopios; incluye también secciones sobre la medición de roscas exteriores y la medición de engranes. Esta obra es un complemento adecuado a los temas básicos incluídos en el libro Metrología.

Incluye los siguientes capitulos:

• Instrumentos Electrodigitales
  • Introducción
  • Sensores de Posición
  • Funciones Básicas de los Instrumentos Electrodigitales de Medición
  • Sistema M-SPC
  • Cuidados que Requieren los Instrumentos Electrodigitales de Medición
  • Otras Características y Aplicaciones
  • Código IP
• Bloques Patrón
  • La Historia del Bloque Patrón
  • Requerimientos para los Bloques Patrón
  • Precauciones Durante la Utilización de Bloques Patrón
  • Procedimiento de Adherencia
  • Unión de Bloques Patrón Grandes
  • Cuidados que Deben Tenerse con los Bloques Después de Usarlos
  • Factores de Error que Afectan los Bloques Patrón
  • Forma y Características de los Bloques Patrón
  • Inspección Periódica
  • Accesorios para Bloques Patrón
  • Uso de los Bloques Patrón
  • Bloques Patrón de Cerámica
• Superficies Planas de Referencia
  • Historia
  • Mesas de Granito
• Sistemas de Ajustes y Tolerancias
  • Introducción
  • Definición de Ajuste y Tolerancia
  • Formas de Expresión de Tolerancias
  • Condiciones de Material
  • Determinación del Tipo de Ajuste
  • El Sistema Americano
  • Interpretación de Límites de Tamaño
  • Calibres de Dimensión Fija
  • Perno Patrón Cilíndrico
  • Calibres Especiales
  • Normas de Referencia
• Comparadores Ópticos
  • Introducción
  • Clasificación
  • Sistemas de Iluminación
  • Medición Lineal
  • Medición Angular
  • Uso de Plantillas
  • Lentes de Proyección
  • Detector de Bordes
  • Microprocesador
• Metrología Superficial y Rugosidad
  • Introducción
  • Las Curvas P y R
  • Definición de Ra
  • Definición de Rz
  • Definición de Ry
  • Símbolos para la Dirección de Marcado
  • Recomendaciones Prácticas para Medir la Rugosidad de una Superficie
  • Rugosímetros
  • Definición de Otros Parámetros
  • Otros Rugosímetros
  • Normas de Referencia
• Medición de Roscas Externas
  • Definiciones
  • Designación del Tipo de Rosca
  • Medición del Diámetro de Paso con Micrómetro
  • Medición del Diámetro de Paso por el Método de los Tres Alambres
  • Medición de Roscas con el Comparador Óptico y el Microscopio de Taller
  • Medición de Partes Roscadas con Calibres Pasa-No Pasa
  • Normas de Referencia
• Dureza y Medición de Dureza
  • Introducción
  • Dureza Brinell
  • Dureza Rockwell y Rockwell Superficial
  • Conversión Entre Diferentes Escalas de Dureza
  • Dureza Vickers
  • Dureza Knoop
  • Recomendaciones para el Uso Adecuado de Patrones de Dureza
  • Dureza Shore
• Principios de las Máquinas de Medición por Coordenadas (CMM)
  • Prefacio
  • Introducción
  • Historia y Desarrollo de las CMM
  • Ventajas y Economía de las CMM
  • Configuración del Sistema de las CMM
  • Funciones y Características de las CMM
  • Componentes de las CMM
  • Exactitud de Medición de las CMM
  • Unidades de Procesamiento de Datos para Sistemas CMM
  • Palpadores y Accessorios para la CMM
  • Condiciones Ambientales
• Microscopios
  • Introducción
  • Definiciones y Términos Comunes en Microscopía
  • Principios Ópticos
  • Microscopio para Inspección de Microcomponentes
  • Objetivos con Distancia de Trabajo Grande
  • Microscopio de Taller
  • Estereoscopía y Estereomicroscopios
  • Desarrollo de los Microscopios
• Medición con Haz Láser
  • Introducción
  • Micrómetro Láser (LSM)
  • Explicación de Funciones
  • Glosario
  • Precauciones de Seguridad para la Operación de la Unidad de Mecición del LSM
  • Medición del Espesor de Productos Laminados
  • Medición del Diámetro Interior
  • Láser Indicativo (LI)
  • Medición con el Láser Indicativo (LI)
  • Precauciones de Seguridad para la Operación del Láser Indicativo
• La Medición de Redondez (Circularidad), Concentricidad (Coaxialidad) y Cilindricidad
  • Definiciones
  • Círculos de Referencia para la Evaluación de la Redondez
  • Medición de Redondez
  • Medición de Concentricidad
  • Medición de Coaxialidad
  • Medición de Cilindricidad
• La Medición de Perfil (Contorno)
  • Definiciones
  • Medición de Contorno
• Medición de Engranes
  • Engranes Rectos
  • Engranes Helicoidales
  • Engranes de Referencia
• Ejercicios
  • Instrumentos Electrodigitales
  • Bloques Patrón
  • Superficies Planas de Referencia
  • Sistemas de Ajustes y Tolerancias
  • Comparadores Ópticos
  • Metrología Superficial (Rugosidad)

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